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RQ電阻器基本原理以及發展
點擊次數:673 發布時間:2014-02-13
   上海永上電器有限公司的RQ電阻器基本原理以及發展
   RQ電阻器由電阻體、骨架和引出端三部分構成(實芯電阻器的電阻體與骨架合而為一),而決定阻值的只是電阻體。對于截面均勻的電阻體,電阻值為
電阻值式中ρ為電阻材料的電阻率(歐/厘米);L為電阻體的長度(厘米);A為電阻體的截面積(厘米)。
薄膜電阻體的厚度d很小,難于測準,且ρ又隨厚度而變化,故把視為與薄膜材料有關的常數,稱為膜電阻。實際上它就是正方形薄膜的阻值,故又稱方阻(歐/方)。對于均勻薄膜薄膜阻值式中W為薄膜的寬度(厘米)。通常Rs應在一有限范圍內,Rs太大會影響電阻器性能的穩定。因此圓柱形電阻體以刻槽方法,平面形電阻體用刻蝕迂回圖形的方法來擴大其阻值范圍,并進行阻值微調。
參數與特性  表征電阻特性的主要參數有標稱阻值及其允許偏差、額定功率、負荷特性、電阻溫度系數等。
標稱阻值 用數字或色標在電阻器上標志的設計阻值。單位為歐(Ω)、千歐(kΩ)、兆歐(MΩ)、太歐(TΩ)。阻值按標準化優先數系列制造,系列數對應于允許偏差。
  如何使用上表:四環電阻:一環數字(十位)二環數字(個位)*倍乘數 例;紅橙黑金=23*10^0=23Ω(±5%)
五環電阻:一環數字(百位)二環數字(十位)三環數字(個位)*倍乘數例:紅藍綠黑棕=265*10^0=265Ω(±1%)
允許偏差 實際阻值與標稱阻值間允許的zui大偏差,以百分比表示。常用的有±5%、±10%、±20%,精密的小于±1%,高精密的可達0.001%。精度由允許偏差和不可逆阻值變化二者決定。
額定功率 電阻器在額定溫度(zui高環境溫度)tR下連續工作所允許耗散的zui大功率。對每種電阻器同時還規定zui高工作電壓,即當阻值較高時即使并未達到額定功率,也不能超過zui高工作電壓使用。
負荷特性  當工作環境溫度低于tR時,電阻器也不能超過其額定功率使用,當超過tR時,必須降低負荷功率。對每種電阻器都有規定的負荷特性。此外,在低氣壓下負荷允許相應降低。在脈沖負荷下,脈沖平均功率遠低于額定功率,一般另有規定。
  RQ電阻器發展
  1885年英國C.布雷德利發明模壓碳質實芯電阻器。1897年英國T.甘布里爾和A.哈里斯用含碳墨汁制成碳膜電阻器。1913~1919年英國W.斯旺和德國F.克魯格先后發明金屬膜電阻器。1925年德國西門子-哈爾斯克公司發明熱分解碳膜電阻器,打破了碳質實芯電阻器壟斷
  市場的局面。晶體管問世后,對電阻器的小型化、阻值穩定性等指標要求更嚴,促進了各類新型電阻器的發展。美國貝爾實驗室1959年研制成 TaN電阻器。60年代以來,采用滾筒磁控濺射、激光阻值微調等新工藝,部分產品向平面化、集成化、微型化及片狀化方面發展。
 
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